Characterization and Identification of Defects in CdTe Detectors Using Scanning Laser Transient Current Technique

Aktiviteetti: Puhe- tai esitystyypitSuullinen esitys

Aikajakso5 marraskuuta 2020
Tapahtuman otsikko2020 Virtual IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference: The 27th International Symposium on Room-Temperature Semiconductor Detectors
Tapahtuman tyyppiKonferenssi
Tunnustuksen arvoKansainvälinen