Kuvaus

Mikael Broas: Quality, Microstructural Refinement and Stability of Atomic-Layer-Deposited Aluminum Nitride and Aluminum Oxide Films
Aikajakso13 syyskuuta 2018
Tutkittava
Tutkimuksen ajankohtaAalto Univ, Aalto University, Dept Elect & Nanoengn
Tunnustuksen arvoKansallinen