Valokuva: Filip Tuomisto
  • PL 43 (Pietari Kalmin katu 2)

    00014

    Suomi

20032020
Jos olet muokannut tietoja Puressa, ne näkyvät pian tässä.

Henkilökohtainen profiili

Tutkimuskohteet

My scientific research work focuses on the fundamental connection between macroscopic properties and atomic-level structure of materials. The methodology of choice is positron annihilation spectroscopy that is particularly suitable for lattice defect characterization in solids. The power of positron spectroscopies lies in (i) the selective sensitivity to open volume structures, (ii) the possibility of studying materials of any type (conductive, insulating, hard, soft, crystalline, or porous) and (iii) the possibility of direct comparison of theoretical calculations and experimental observations. My group is is one of the world’s leading teams in developing the methodology, instrumentation, applications and theory of positron annihilation spectroscopy of semiconductor materials and devices.

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Kansainvälinen ja kotimainen yhteistyö Viimeisin maatasolla toteutettu yhteistyö. Saat syvempiä lisätietoja pisteitä napsauttamalla.

Julkaisut 2003 2020

Effect of interstitial carbon on the evolution of early-stage irradiation damage in equiatomic FeMnNiCoCr high-entropy alloys

Lu, E., Makkonen, I., Mizohata, K., Räisänen, J. & Tuomisto, F., 9 tammikuuta 2020, julkaisussa : Journal of Applied Physics. 127, 025103

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Tuomisto, F. (toim.), 2019, London: Institution of engineering and technology. 596 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Kirja/raporttiKokoomateos tai erikoisnumero

Direct observation of mono-vacancy and self-interstitial recovery in tungsten

Heikinheimo, J., Mizohata, K., Räisänen, J., Ahlgren, T., Jalkanen, P., Lahtinen, A., Catarino, N., Alves, E. & Tuomisto, F., helmikuuta 2019, julkaisussa : Physical Review Materials. 7, 2, 5 Sivumäärä, 021103.

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Open access
Tiedosto

Ga vacancies and electrical compensation in beta-Ga2O3 thin films studied with positron annihilation spectroscopy

Tuomisto, F., Karjalainen, A., Prozheeva, V., Makkonen, I., Wagner, G. & Baldini, M., 2019, Oxide-Based Materials and Devices X. Rogers, DJ., Look, DC. & Teherani, FH. (toim.). Bellingham: SPIE - the international society for optics and photonics, 8 Sivumäärä (Proceedings of SPIE; Vuosikerta 10919).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Positron annihilation spectroscopy, experimental and theoretical aspects

Slotte, J., Makkonen, I. & Tuomisto, F., 2019, Characterisation and Control of Defects in Semiconductors. Tuomisto, F. (toim.). London: Institution of engineering and technology, s. 263-288 26 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKirjan luku tai artikkeliTieteellinenvertaisarvioitu