Tutkimustuotoksia vuodessa
Tutkimustuotoksia vuodessa
Julkaisut
- 10 Artikkeli
Hakutulokset
-
2025
Submicron Embedded Air/GaN Diffraction Gratings for Photonic Applications
Gołyga, O., Muziol, G., Feduniewicz-Żmuda, A., Siekacz, M., Turski, H., Sochacki, T., Słowikowski, M., Prozheev, I., Tuomisto, F., Pruszyńska-Karbownik, E., Fąs, T., Suffczyński, J., Skierbiszewski, C. & Sawicka, M., maalisk. 2025, julkaisussa: Advanced electronic materials. 11, 3, 9 Sivumäärä, 2400365.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
2024
Defects in layered boron nitride grown by Metal Organic Vapor Phase Epitaxy: luminescence and positron annihilation studies
Dąbrowska, A. K., Binder, J., Prozheev, I., Tuomisto, F., Iwański, J., Tokarczyk, M., Korona, K. P., Kowalski, G., Stępniewski, R. & Wysmołek, A., toukok. 2024, julkaisussa: Journal of Luminescence. 269, 11 Sivumäärä, 120486.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
In-grown and irradiation-induced Al and N vacancies in 100 keV H+ implanted AlN single crystals
Prozheev, I., Heikkinen, T. N. P., Makkonen, I., Mizohata, K. & Tuomisto, F., 1 heinäk. 2024, julkaisussa: Japanese journal of applied physics part 1-Regular papers short notes & review papers. 63, 7, 6 Sivumäärä, 071001.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
Refinement of the uranium dispersion corrections from anomalous diffraction
Leinders, G., Grendal, O. G., Arts, I., Bes, R., Prozheev, I., Orlat, S., Fitch, A., Kvashnina, K. & Verwerft, M., huhtik. 2024, julkaisussa: Journal of Applied Crystallography. 57, s. 284-295 12 SivumääräTutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
-
2023
Effect of atomic layer annealing in plasma-enhanced atomic layer deposition of aluminum nitride on silicon
Seppänen, H., Prozheev, I., Kauppinen, C., Suihkonen, S., Mizohata, K. & Lipsanen, H., syysk. 2023, julkaisussa: Journal of Vacuum Science Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 41, 5, 7 Sivumäärä, 052401.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
Europium diffusion in ammonothermal gallium nitride
Jaroszynska, A., Grzanka, E., Grabowski, M., Staszczak, G., Prozheev, I., Jakiela, R., Tuomisto, F. & Bockowski, M., 15 heinäk. 2023, julkaisussa: Applied Surface Science. 625, 10 Sivumäärä, 157188.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
Fabrication of GaN-air channels for embedded photonic structures
Sawicka, M., Golyga, O., Fiuczek, N., Muziol, G., Feduniewicz-Zmuda, A., Siekacz, M., Turski, H., Czernecki, R., Grzanka, E., Prozheev, I., Tuomisto, F. & Skierbiszewski, C., 1 maalisk. 2023, julkaisussa: Materials Science in Semiconductor Processing. 155, 6 Sivumäärä, 107234.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
Origins of Electrical Compensation in Si-Doped HVPE GaN
Prozheev, I., Iwinska, M., Sochacki, T., Bockowski, M., Bès, R. & Tuomisto, F., elok. 2023, julkaisussa: Physica Status Solidi. B: Basic Research. 260, 8, 6 Sivumäärä, 2200568.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
2021
Growth of highly conductive Al-rich AlGaN:Si with low group-III vacancy concentration
Almogbel, A. S., Zollner, C. J., Saifaddin, B. K., Iza, M., Wang, J., Yao, Y., Wang, M., Foronda, H., Prozheev, I., Tuomisto, F., Albadri, A., Nakamura, S., DenBaars, S. P. & Speck, J. S., 1 syysk. 2021, julkaisussa: AIP Advances. 11, 9, 8 Sivumäärä, 095119.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto -
2020
Electrical compensation and cation vacancies in Al rich Si-doped AlGaN
Prozheev, I., Mehnke, F., Wernicke, T., Kneissl, M. & Tuomisto, F., 5 lokak. 2020, julkaisussa: Applied Physics Letters. 117, 14, 5 Sivumäärä, 142103.Tutkimustuotos: Artikkelijulkaisu › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Open accessTiedosto