Ei valokuvaa: Juha Aaltonen
  • PL 64 (Gustaf Hällströmin katu 2)

    00014

    Suomi

20052013
Jos olet muokannut tietoja Puressa, ne näkyvät pian tässä.

Julkaisut 2005 2013

  • 16 Konferenssiartikkeli
  • 8 Artikkeli
2013

Nondestructive Inspection of Buried Channels and Cavities in Silicon

Kassamakov, I., Grigoras, K., Heikkinen, V., Hanhijarvi, K., Aaltonen, J., Franssila, S. & Haeggstrom, E., huhtikuuta 2013, julkaisussa : IEEE Journal of Microelectromechanical Systems. 22, 2, s. 438-442 5 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Through-Silicon Stroboscopic Characterization of an Oscillating MEMS Thermal Actuator Using Supercontinuum Interferometry

Hanhijarvi, K., Kassamakov, I., Aaltonen, J., Heikkinen, V., Sainiemi, L., Franssila, S. & Haeggstrom, E., elokuuta 2013, julkaisussa : IEEE - ASME Transactions on Mechatronics. 18, 4, s. 1418-1420 3 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2012

3D IMAGING INSIDE DISCHARGING MICROFLUIDIC CHANNEL USING SCANNING WHITE LIGHT INTERFEROMETRY

Heikkinen, V., Ylitalo, T. J., Nolvi, A., Hanhijärvi, K., Aaltonen, J. P., Kassamakov, I. V. & Haeggström, E., 2012, Physics Days: The 46th annual meeting of the Finnish Physical Society, proceedings. Joensuu, s. 112 1 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinen

CHARACTERIZING MULTILAYER PRINTED DRUGS WITH SWLI

Ylitalo, T. J., Ehlers, H., Nolvi, A., Heikkinen, V., Aaltonen, J. P., Kassamakov, I. V., Sandler, N. & Haeggström, E., 2012, Physics Days: The 46th annual meeting of the Finnish Physical Society, proceedings. Joensuu, s. 142 1 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinen

IR-SWLI for subsurface imaging of large MEMS structures

Nolvi, A., Heikkinen, V., Kassamakov, I. V., Aaltonen, J. P., Ylitalo, T. J., Saresoja, O. A., Berdova, M., Franssila, S. & Haeggström, E., 26 huhtikuuta 2012, Optical Micro- and Nanometrology IV: Optical Micro- and Nanometrology IV. SPIE, s. 843018 (Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering; Vuosikerta 8430).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Nondestructive Static and Dynamic MEMS Characterization using Supercontinuum Scanning White Light Interferometry

Heikkinen, V., Hanhijarvi, K., Aaltonen, J., Grigoras, K., Kassamakov, I., Franssila, S. & Haeggström, E., tammikuuta 2012, julkaisussa : Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering. 8250, s. 825008 7 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Stroboscopic supercontinuum white-light interferometer for MEMS characterization

Hanhijarvi, K., Kassamakov, I., Heikkinen, V., Aaltonen, J., Sainiemi, L., Grigoras, K., Franssila, S. & Haeggstrom, E., 2012, julkaisussa : Optics Letters. 37, 10, s. 1703-1705 3 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2011

Hybrid light source for scanning white light interferometry-based MEMS quality control

Heikkinen, V., Hanhijärvi, K., Aaltonen, J. P., Räikkönen, H., Wälchli, B., Paulin, T., Kassamakov, I. V., Grigoras, K., Franssila, S. & Haeggström, E., toukokuuta 2011, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection . Munich: SPIE, Vuosikerta 8082. s. 80822O-1 - 80822O-8 8 Sivumäärä (Proceedings of SPIE; Vuosikerta 8082).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Infrared Scanning White Light Interferometry Using a Solid State Light Source

Heikkinen, V., Aaltonen, J. P., Wälchli, B., Räikkönen, H., Kassamakov, I. V., Cholakova, T., Grigoras, K., Franssila, S., Kakanakov, R. & Haeggström, E., 25 helmikuuta 2011, Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices . San Francisco: SPIE, Vuosikerta 7928. s. 792809-1 - 792809-9 9 Sivumäärä (Proceedings of SPIE; Vuosikerta 7928).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Non Phosphor White LED Light Source for Interferometry

Heikkinen, V., Wälchli, B., Räikkönen, H., Paulin, T., Haeggström, E., Aaltonen, J. P. & Kassamakov, I. V., elokuuta 2011, Dimensional Optical Metrology and Inspection for Practical Applications: Optical Metrology Methods II. San Diego: SPIE, Vuosikerta 8133. s. 813309-1 - 813309-8 8 Sivumäärä (Proceedings of SPIE; Vuosikerta 8133).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Scanning White Light Interferometry, a New 3D Forensics Tool

Heikkinen, V., Kassamakov, I. V., Haeggström, E., Lehto, S., Kiljunen, J., Reinikainen, T. & Aaltonen, J. P., marraskuuta 2011, 2011 IEEE International Conference on Technologies for Homeland Security. IEEE, s. 332-337 6 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

SOLID STATE LIGHT SOURCES FOR 3D PROFILERS

Heikkinen, V., Wälchli, B., Räikkönen, H., Aaltonen, J. P., Kassamakov, I. V. & Haeggström, E., 2011, PROCEEDINGS OF THE XLV ANNUAL CONFERENCE OF THE FINNISH PHYSICAL SOCIETY AND THE SECOND NORDIC PHYSICS MEETING.

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinen

2010

Determining the chronological order of crossing lines using 3D imaging techniques

Heikkinen, V., Barbeau, C., Kassamakov, I. V., Lehto, S., Reinikainen, T., Aaltonen, J. P. & Haeggström, E., 2010, Optics and Photonics for Counterterrorism and Crime Fighting VI and Optical Materials in Defence Systems Technology VII. SPIE, s. 78380T-1 - 78380T-11 11 Sivumäärä (Proceedings of SPIE; Vuosikerta 7838).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Quality Control of Ultrasonic Bonding Tools Using a Scanning White Light Interferometer

Heikkinen, V., Kurppa, R., Seppänen, H. O., Räikkönen, H., Aaltonen, J. P., Kassamakov, I. V. & Haeggström, E., lokakuuta 2010, 2010 IEEE International Ultrasonics Symposium. IEEE, s. 1428-1430 3 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Scratch resistance of plasticized hydroxypropyl methylcellulose (HPMC) films intended for tablet coatings

Hanhijärvi, K., Majava, T., Kassamakov, I., Heinämäki, J., Aaltonen, J., Haapalainen, J., Haeggström, E. & Yliruusi, J., helmikuuta 2010, julkaisussa : European Journal of Pharmaceutics and Biopharmaceutics. 74, 2, s. 371-376 6 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2009

Dynamic evaluation of lateral and vertical displacement of thermally actuated MEMS devices

Hanhijärvi, K., Aaltonen, J., Kassamakov, I., Sainiemi, L., Grigoras, K., Franssila, S. & Haeggström, E., 2009, julkaisussa : Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering. 7389, s. 73892Z

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Fabrication of thermal microbridge actuators and characterization of their electrical and mechanical responses

Sainiemi, L., Grigoras, K., Kassamakov, I., Hanhijarvi, K., Aaltonen, J., Fan, J., Saarela, V., Haeggstrom, E. & Franssila, S., 2009, julkaisussa : Sensors and Actuators A: Physical. 149, 2, s. 305-314 10 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Scanning white-light interferometry with a supercontinuum source

Kassamakov, I., Hanhijärvi, K., Abbadi, I., Aaltonen, J., Ludvigsen, H. & Haeggström, E., 2009, julkaisussa : Optics Letters. 34, 10, s. 1582-1584 3 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2008

Effect of LED spectral shift on vertical resolution in stroboscopic white light interferometry

Hanhijärvi, K., Aaltonen, J., Kassamakov, I., Grigoras, K., Sainiemi, L., Franssila, S. & Haeggström, E., 2008, Optical sensors 2008. s. S31-S31 1 Sivumäärä (Proceedings of the Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE); Vuosikerta 7003).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2007

Scanning white light interferometry in quality control of single-point tape automated bonding

Kassamakov, I., Seppänen, H. O., Oinonen, M., Haeggström, E., Österberg, J. M., Aaltonen, J. P., Saarikko, H. & Radivojevic, Z. P., 2007, julkaisussa : Microelectronic Engineering. 84, s. 114-123 10 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2006

Assembly and validation of the SSD silicon microstrip detector of ALICE

Bregant, M., Borysov, O., Bosisio, L., Camerini, P., Contin, G., Faleschini, F., Fragiacomo, E., Oinonen, M., Aaltonen, J., Kassamakov, I., Nikkinen, S., Radivojevic, Z., Seppänen, H. & Österberg, M., 2006, julkaisussa : Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors, and Associated Equipment. 566, 1, s. 18-21 4 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Characterization of dents and grooves on polymer films using scanning white light interferometry

Kassamakov, I., Ojala, K., Salmi, A., Hæggström, E., Aaltonen, J., Huber, A., Saarikko, H., Österberg, M. & Oinonen, M., 2006, julkaisussa : Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering. 6188, s. 61881G

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

The ALICE vertex detector: Focus on the micro-strip layers

Bregant, M., Borysov, O., Bosisio, L., Camerini, P., Contin, G., Faleschini, F., Fragiacomo, E., Grion, N., Margagliotti, G. -V., Piano, S., Rachevskaia, I., Rui, R., de Haas, A. P., Kluit, R., Kuijer, P. G., Nooren, G. J. L., Oskamp, C. J., Sokolov, A. N., van den Brink, A., Agnese, F. & 24 muutaBonnet, D., Clausse, O., Imhoff, M., Kuhn, C., Littel, F., Lutz, J. R., Plumeri, S., Sigward, M. H., Wabnitz, C., Zeter, V., Oinonen, M., Aaltonen, J., Kassamakov, I., Nikkinen, S., Radivojevic, Z., Seppänen, H. O., Österberg, J. M., Antonova, V., Borshchov, V., Listratenko, A., Protsenko, M., Kostyshin, J., Tymchuk, I. & Zinovjev, G., 2006, julkaisussa : Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors, and Associated Equipment. 569, 1, s. 29-32 4 Sivumäärä

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

2005

ALICE silicon strip detector module assembly with single-point TAB interconnections

Oinonen, M., Aaltonen, J., Kassamakov, I., Nikkinen, S., Radivojevic, Z., Seppänen, H. & Österberg, M., 2005, 11th Workshop on electronics for LHC and future experiments, 12-16 September 2005, Heidelberg. Geneva: CERN/LHCC, s. 92-97 6 Sivumäärä

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu