Amorphous defect clusters of pure Si and type inversion in Si detectors

Eero Kristian Holmström, Mikko Oskari Hakala, Kai Nordlund

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
LehtiPhysical Review B, Condensed Matter and Materials Physics
Vuosikerta82
Numero10
Sivut104111
Sivumäärä5
ISSN1098-0121
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 16 syyskuuta 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä