Analysis of Defect Formation in High-Fluence Ion Mixing in Si-SiO2 Nanolayers

Tutkimustuotos: KonferenssimateriaalitKonferenssiabstrakti

Alkuperäiskielienglanti
TilaJätetty - 25 tammikuuta 2018
TapahtumaE-MRS Spring Meeting - --, Strasbourg, Ranska
Kesto: 12 joulukuuta 2009 → …

Muu

MuuE-MRS Spring Meeting
MaaRanska
KaupunkiStrasbourg
Ajanjakso12/12/2009 → …

Siteeraa tätä