Beam Test Measurements With 3D-DDTC Silicon Strip Detectors on n-Type Substrate

Michael Köhler, Richard Bates, Maurizio Boscardin, Gian-Franco Dalla Betta, Celeste Fleta, Jaakko Härkönen, Sarah Houston, Karl Jakobs, Susanne Kuehn, Manuel Lozano, Panja-Riina Luukka, Teppo Mäenpää, Henri Moilanen, Chris Parkes, Ulrich Parzefall, Giulio Pellegrini, David Pennicard, Sabina Ronchin, Andrea Zoboli, Nicola Zorzi

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
LehtiIEEE Transactions on Nuclear Science
Vuosikerta57
Numero5
Sivut2987-2994
Sivumäärä8
ISSN0018-9499
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä