Abstrakti
We developed a synthetic aperture focusing technique (SAFT)-based algorithm to extend the working distance of a traditional scanning acoustic microscopy (SAM) transducer at 400 MHz. This algorithm is used to analyze C-scan images of a USAF 1951 resolution sample that is imaged at 50 μm defocus and at focus. The comparison of these images shows that this method can enhance the resolution of defocused images. Imaging artefacts caused by this method are discussed.
Alkuperäiskieli | englanti |
---|---|
Otsikko | 2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) |
Sivumäärä | 3 |
Kustantaja | IEEE |
Julkaisupäivä | 2019 |
Sivut | 583-585 |
ISBN (painettu) | 978-1-7281-4597-6 |
ISBN (elektroninen) | 978-1-7281-4596-9, 978-1-7281-4595-2 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 2019 |
OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa |
Tapahtuma | IEEE International Ultrasonics Symposium - Glasgow, Britannia Kesto: 6 lokak. 2019 → 9 lokak. 2019 Konferenssinumero: 11 https://attend.ieee.org/ius-2019/ |
Julkaisusarja
Nimi | IEEE International Ultrasonics Symposium |
---|---|
ISSN (painettu) | 1948-5719 |
ISSN (elektroninen) | 1948-5727 |
Tieteenalat
- 114 Fysiikka
- 221 Nanoteknologia