Fine-rotation attachment to standard goniometers

P Suortti, Jani Keyriläinen, Manuel Fernandez

    Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    Alkuperäiskielienglanti
    LehtiJournal of Applied Crystallography
    Vuosikerta37
    Sivut62-66
    Sivumäärä5
    ISSN0021-8898
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

    Tieteenalat

    • 114 Fysiikka

    Lainaa tätä

    @article{8a4e7f64da3a45d49cbc3bca5b5c9350,
    title = "Fine-rotation attachment to standard goniometers",
    keywords = "X-RAY, RESOLUTION, 114 Physical sciences",
    author = "P Suortti and Jani Keyril{\"a}inen and Manuel Fernandez",
    year = "2004",
    doi = "10.1107/S0021889803024282",
    language = "English",
    volume = "37",
    pages = "62--66",
    journal = "Journal of Applied Crystallography",
    issn = "0021-8898",
    publisher = "WILEY-BLACKWELL MUNKSGAARD",

    }

    Fine-rotation attachment to standard goniometers. / Suortti, P ; Keyriläinen, Jani; Fernandez, Manuel.

    julkaisussa: Journal of Applied Crystallography, Vuosikerta 37, 2004, s. 62-66.

    Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    TY - JOUR

    T1 - Fine-rotation attachment to standard goniometers

    AU - Suortti, P

    AU - Keyriläinen, Jani

    AU - Fernandez, Manuel

    PY - 2004

    Y1 - 2004

    KW - X-RAY

    KW - RESOLUTION

    KW - 114 Physical sciences

    U2 - 10.1107/S0021889803024282

    DO - 10.1107/S0021889803024282

    M3 - Article

    VL - 37

    SP - 62

    EP - 66

    JO - Journal of Applied Crystallography

    JF - Journal of Applied Crystallography

    SN - 0021-8898

    ER -