Label-free 3D super-resolution nanoscope

I. Kassamakov, G. Maconi, M. Järvinen, A. Nolvi, T. Vainikka, P. Raatikainen, T. Arstila, T. Ylitalo, Ilona Stefana Nincâ, K. Ahlers, E. Haeggstroem

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
OtsikkoOptical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
ToimittajatPeter Lehmann, Wolfgang Osten, Armando Albertazzi Gonçalves Jr.
Sivumäärä8
JulkaisupaikkaBellingham, WA
KustantajaSPIE - the international society for optics and photonics
Julkaisupäivä2019
ISBN (painettu)978-1-5106-2791-8
ISBN (elektroninen)978-1-5106-2792-5
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2019
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaOptical Measurement Systems for Industrial Inspection - München, Saksa
Kesto: 24 kesäkuuta 201927 kesäkuuta 2019
Konferenssinumero: 11
https://spie.org/EOM/conferencedetails/optical-measurement-systems-industrial-inspection?SSO=1

Julkaisusarja

NimiProceedings of SPIE
KustantajaSPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Vuosikerta11056
ISSN (painettu)0277-786X
ISSN (elektroninen)1996-756X

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä