Label-free 3D super-resolution nanoscope with large field of view

Ivan Kassamakov, Tuomo Ylitalo, Anton Nolvi, Pekka Raatikainen, Riku Paananen, Edward Haeggström

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
OtsikkoOptical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
ToimittajatYG Soskind
Sivumäärä8
KustantajaSPIE - the international society for optics and photonics
Julkaisupäivä2019
Artikkeli no109250A
ISBN (painettu)978-1-5106-2493-1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2019
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaConference on Photonic Instrumentation Engineering - San Francisco, Kanada
Kesto: 5 helmikuuta 20197 helmikuuta 2019
Konferenssinumero: VI

Julkaisusarja

NimiProceedings of SPIE
KustantajaSPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Vuosikerta10925
ISSN (painettu)0277-786X

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä