Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Pixelated silicon detector for radiation beam profile measurements

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Abstrakti

A pixelated silicon detector, developed originally for particle physics experiments, was used for a beam profile measurement of a cobalt-60 (Co-60) irradiator in a water phantom. The beam profile was compared to a profile measured with a pinpoint ionization chamber. The differences in the pixel detector and pinpoint chamber relative profiles were within approximately 2% of profile maximum, and after calculating correction factors with Monte Carlo simulations for the pixel detector, the maximum difference was decreased to approximately 1% of profile maximum. The detector's capability to measure pulse-height was used to record an electron pulse-height spectrum in water in the Co-60 beam, and the results agreed well with simulations.
Alkuperäiskielienglanti
Artikkeli106949
LehtiRadiation Measurements
Vuosikerta165
Sivumäärä10
ISSN1350-4487
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - heinäk. 2023
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka
  • 216 Materiaalitekniikka
  • 213 Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka

Siteeraa tätä