Preface to Special Topic: Defects in Semiconductors

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuPääkirjoitusTieteellinen

Alkuperäiskielienglanti
Artikkeli181301
LehtiJournal of Applied Physics
Vuosikerta119
Numero18
Sivumäärä1
ISSN0021-8979
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 14 toukokuuta 2016
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiB1 Kirjoitus tieteellisessä aikakauslehdessä

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä