Properties of AlN Film Grown by Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition

M. Bosund, Matti Putkonen, T. Sajavaara, M. Laitinen, T. Huhtio, V-M. Airaksinen, H. Lipsanen

Tutkimustuotos: Kirja/raporttiTutkimusraportti

Alkuperäiskielienglanti
TilaJulkaistu - 2011
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Siteeraa tätä