Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy

Oskari Mikael Tommiska; Antti Meriläinen; Joni Mikko Kristian Mäkinen; Jere Tapio Johannes Hyvönen; Ari Salmi; Edward Haeggström

doi:10.1109/ULTSYM.2019.8925779

Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy

Oskari Mikael Tommiska, Antti Meriläinen, Joni Mikko Kristian Mäkinen, Jere Tapio Johannes Hyvönen, Ari Salmi, Edward Haeggström

Materiaalifysiikka

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussa › Konferenssiartikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	englanti
Otsikko	2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
Sivumäärä	3
Kustantaja	IEEE
Julkaisupäivä	2019
Sivut	593-595
ISBN (painettu)	978-1-7281-4597-6
ISBN (elektroninen)	978-1-7281-4596-9, 978-1-7281-4595-2
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1109/ULTSYM.2019.8925779
Tila	Julkaistu - 2019
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
Tapahtuma	IEEE International Ultrasonics Symposium - Glasgow, Britannia Kesto: 6 lokak. 2019 → 9 lokak. 2019 Konferenssinumero: 11 https://attend.ieee.org/ius-2019/

Julkaisusarja

Nimi	IEEE International Ultrasonics Symposium
ISSN (painettu)	1948-5719
ISSN (elektroninen)	1948-5727

Tieteenalat

114 Fysiikka

Pääsy asiakirjaan

10.1109/ULTSYM.2019.8925779

OskariTommiska1_9756a8a0-f58f-4754-9043-ddf52fe03065Hyväksytty kirjoittajan käsikirjoitus, 413 KB

Siteeraa tätä

@inproceedings{9756a8a0f58f47549043ddf52fe03065,

title = "Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy",

keywords = "114 Physical sciences",

author = "Tommiska, {Oskari Mikael} and Antti Meril{\"a}inen and M{\"a}kinen, {Joni Mikko Kristian} and Hyv{\"o}nen, {Jere Tapio Johannes} and Ari Salmi and Edward Haeggstr{\"o}m",

year = "2019",

doi = "10.1109/ULTSYM.2019.8925779",

language = "English",

isbn = "978-1-7281-4597-6",

series = "IEEE International Ultrasonics Symposium",

publisher = "IEEE",

pages = "593--595",

booktitle = "2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)",

address = "United States",

note = "IEEE International Ultrasonics Symposium, IUS ; Conference date: 06-10-2019 Through 09-10-2019",

url = "https://attend.ieee.org/ius-2019/",

}

Tommiska, OM, Meriläinen, A , Mäkinen, JMK , Hyvönen, JTJ , Salmi, A & Haeggström, E 2019, Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy. julkaisussa 2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). IEEE International Ultrasonics Symposium, IEEE, Sivut 593-595, IEEE International Ultrasonics Symposium, Glasgow, Britannia, 06/10/2019. https://doi.org/10.1109/ULTSYM.2019.8925779

Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy. / Tommiska, Oskari Mikael; Meriläinen, Antti ; Mäkinen, Joni Mikko Kristian et al.
2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS). IEEE, 2019. s. 593-595 (IEEE International Ultrasonics Symposium).

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussa › Konferenssiartikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

TY - GEN

T1 - Removing frequency dependent aberrations in acoustic microscopy

AU - Tommiska, Oskari Mikael

AU - Meriläinen, Antti

AU - Mäkinen, Joni Mikko Kristian

AU - Hyvönen, Jere Tapio Johannes

AU - Salmi, Ari

AU - Haeggström, Edward

N1 - Conference code: 11

PY - 2019

Y1 - 2019

KW - 114 Physical sciences

U2 - 10.1109/ULTSYM.2019.8925779

DO - 10.1109/ULTSYM.2019.8925779

M3 - Conference contribution

SN - 978-1-7281-4597-6

T3 - IEEE International Ultrasonics Symposium

SP - 593

EP - 595

BT - 2019 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)

PB - IEEE

T2 - IEEE International Ultrasonics Symposium

Y2 - 6 October 2019 through 9 October 2019

ER -