Suboxide interface in disproportionating a-SiO studied by x-ray Raman scattering

A. Sakko, C. Sternemann, Ch. J. Sahle, H. Sternemann, O. M. Feroughi, H. Conrad, F. Djurabekova, A. Hohl, G. T. Seidler, M. Tolan, K. Hämäläinen

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
LehtiPhysical Review B, Condensed Matter and Materials Physics
Vuosikerta81
Numero20
Sivut205317
Sivumäärä7
ISSN1098-0121
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä