Super-resolution photonic nanojet interferometry: photonic nanojet interaction with a polymer sample

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/raportissa/konferenssijulkaisussaKonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
OtsikkoOptical Measurement Systems for Industrial Inspection X
ToimittajatPeter Lehmann, Wolfgang Osten, Armando Albertazzi Gonçalves
JulkaisupaikkaWashington
KustantajaSPIE, The International Society for Optical Engineering
Julkaisupäivä2017
Artikkeli noUNSP 103291B
ISBN (painettu)978-1-5106-1103-0
ISBN (elektroninen)978-1-5106-1104-7
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2017
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaSPIE Optical Metrology - Munich, Saksa
Kesto: 26 kesäk. 201729 kesäk. 2017

Julkaisusarja

NimiProceedings of SPIE
KustantajaSPIE, The International Society for Optical Engineering
Vuosikerta10329
ISSN (painettu)0277-786X
ISSN (elektroninen)1996-756X

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Siteeraa tätä