Traceable methods for vertical scale characterization of dynamic stroboscopic scanning white-light interferometer measurements

V. Heikkinen, I. Kassamakov, J. Seppa, T. Paulin, A. Nolvi, A. Lassila, E. Haeggstrom

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

Alkuperäiskielienglanti
LehtiApplied Optics
Vuosikerta54
Numero35
Sivut10397-10403
Sivumäärä7
ISSN1559-128X
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 10 joulukuuta 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, vertaisarvioitu

Tieteenalat

  • 114 Fysiikka

Lainaa tätä

@article{3444af5f5fd14f6a82f16767215a2b47,
title = "Traceable methods for vertical scale characterization of dynamic stroboscopic scanning white-light interferometer measurements",
keywords = "ENVELOPE DETECTION, APERTURE, MIKES, 114 Physical sciences",
author = "V. Heikkinen and I. Kassamakov and J. Seppa and T. Paulin and A. Nolvi and A. Lassila and E. Haeggstrom",
year = "2015",
month = "12",
day = "10",
doi = "10.1364/AO.54.010397",
language = "English",
volume = "54",
pages = "10397--10403",
journal = "Applied Optics",
issn = "1559-128X",
publisher = "OPTICAL SOC AMER",
number = "35",

}

Traceable methods for vertical scale characterization of dynamic stroboscopic scanning white-light interferometer measurements. / Heikkinen, V.; Kassamakov, I.; Seppa, J.; Paulin, T.; Nolvi, A.; Lassila, A.; Haeggstrom, E.

julkaisussa: Applied Optics, Vuosikerta 54, Nro 35, 10.12.2015, s. 10397-10403.

Tutkimustuotos: ArtikkelijulkaisuArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

TY - JOUR

T1 - Traceable methods for vertical scale characterization of dynamic stroboscopic scanning white-light interferometer measurements

AU - Heikkinen, V.

AU - Kassamakov, I.

AU - Seppa, J.

AU - Paulin, T.

AU - Nolvi, A.

AU - Lassila, A.

AU - Haeggstrom, E.

PY - 2015/12/10

Y1 - 2015/12/10

KW - ENVELOPE DETECTION

KW - APERTURE

KW - MIKES

KW - 114 Physical sciences

U2 - 10.1364/AO.54.010397

DO - 10.1364/AO.54.010397

M3 - Article

VL - 54

SP - 10397

EP - 10403

JO - Applied Optics

JF - Applied Optics

SN - 1559-128X

IS - 35

ER -