Atomic force microscope adhesion measurements and atomistic molecular dynamics simulations at different humidities

Jeremias Seppa, Bernhard Reischl, Hannu Sairanen, Virpi Korpelainen, Hannu Husu, Martti Heinonen, Paolo Raiteri, Andrew L. Rohl, Kai Nordlund, Antti Lassila

Forskningsoutput: TidskriftsbidragArtikelVetenskapligPeer review

Originalspråkengelska
Artikelnummer034004
TidskriftMeasurement Science and Technology
Volym28
Nummer3
Antal sidor10
ISSN0957-0233
DOI
StatusPublicerad - mars 2017
MoE-publikationstypA1 Tidskriftsartikel-refererad

Vetenskapsgrenar

  • 114 Fysik

Citera det här