Can Point Defects in Surfaces in Solution be Atomically Resolved by Atomic Force Microscopy?

Bernhard Reischl, Paolo Raiteri, Julian D. Gale, Andrew L. Rohl

Forskningsoutput: TidskriftsbidragArtikelVetenskapligPeer review

Originalspråkengelska
Artikelnummer226101
TidskriftPhysical Review Letters
Volym117
Nummer22
Antal sidor5
ISSN0031-9007
DOI
StatusPublicerad - 23 nov. 2016
Externt publiceradJa
MoE-publikationstypA1 Tidskriftsartikel-refererad

Citera det här