Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Filip Tuomisto (Redaktör)

Forskningsoutput: Bok/rapportAntologi eller special utgåvaVetenskapligPeer review

Originalspråkengelska
UtgivningsortLondon
FörlagInstitution of engineering and technology
Antal sidor596
ISBN (tryckt)978-1-78561-655-6
ISBN (elektroniskt)978-1-78561-656-3
StatusPublicerad - 2019
MoE-publikationstypC2 Redigerade böcker

Vetenskapsgrenar

  • 114 Fysik
  • 213 El-, automations- och telekommunikationsteknik, elektronik
  • 216 Materialteknik

Citera det här

Tuomisto, F. (Red.) (2019). Characterisation and Control of Defects in Semiconductors. Institution of engineering and technology.